美(mei)國(guo)AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測試(shi)儀現貨

美(mei)國(guo)AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測試(shi)儀現貨
自(zi)1936年以來(lai)，AssociatedResearch壹直為電(dian)氣(qi)安(an)全合(he)規行(xing)業提(ti)供(gong)測試(shi)和(he)測量解(jie)決方(fang)案(an)。我們對質(zhi)量，創新(xin)和客(ke)戶(hu)服(fu)務的承諾(nuo)有助(zhu)於塑造(zao)行(xing)業。多(duo)年來(lai)，我們壹(yi)直處於地位(wei)，產品(pin)創(chuang)新和(he)設計。這在(zai)我們的歷(li)史(shi)早期(qi)開(kai)始，引入(ru)了(le)Vibrotest，在(zai)美(mei)國(guo)個(ge)電(dian)池(chi)操(cao)作(zuo)的兆(zhao)歐(ou)表。不久之後，我們開(kai)發(fa)了(le)ACHypot，這(zhe)是我們臺(tai)HipotTester。隨著(zhe)我們繼續(xu)創新(xin)和(he)塑造(zao)市(shi)場，Hipot測試(shi)很(hen)快(kuai)成(cheng)為我們公(gong)司(si)的實(shi)力。我們與(yu)各地的制(zhi)造(zao)商(shang)建立了(le)合(he)作關(guan)系(xi)，他們相信(xin)我們的產品(pin)和(he)電(dian)氣(qi)安(an)全合(he)規性測試(shi)的專(zhuan)業(ye)知(zhi)識(shi)，以保(bao)護(hu)他(ta)們的員(yuan)工(gong)和(he)客(ke)戶(hu)免受電(dian)的危害。

2019年4月(yue)，伊(yi)利(li)諾(nuo)伊(yi)州森(sen)林(lin)湖 ─ 自(zi)推出(chu)以來(lai)，Associated Research的MedTEST壹(yi)直是*醫(yi)療(liao)器(qi)材(cai)制造(zao)商(shang)認(ren)可(ke)的測試(shi)系(xi)統(tong)。 MedTEST系(xi)統(tong)可(ke)以為(wei)醫(yi)療(liao)器材(cai)制造(zao)商(shang)提(ti)供(gong)完整的測試(shi)解(jie)決方(fang)案(an)，並(bing)且(qie)符合IEC 60601-1第(di)3版(ban)標(biao)準(zhun)。 另外(wai)，MedTEST系(xi)統(tong)也(ye)可(ke)進(jin)行(xing)客制(zhi)化(hua)，以滿(man)足(zu)各(ge)種(zhong)應用的需(xu)求(qiu)，包(bao)括(kuo)高壓(ya)絕(jue)緣測試(shi) (Hipot) 、接(jie)地阻(zu)抗(kang) (Ground Bond) 、絕(jue)緣電(dian)阻(zu) (Insulation Resistance) 、功(gong)率測試(shi) (Functional Run) 和(he)泄漏(lou)電(dian)流 (Line Leakage) 測試(shi)。
美(mei)國(guo)AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測試(shi)儀現貨
AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測試(shi)儀操作(zuo)手冊：
測量前，首先(xian)確(que)保待(dai)測表面(mian)幹凈無(wu)汙(wu)染(ran)。
表(biao)面(mian)阻(zu)抗(kang)
1、平行(xing)探頭(tou)阻(zu)抗測量法(ParallelProbeResistivityMethod)
平行(xing)探頭(tou)阻(zu)抗測量法是(shi)符合EOS/ESD－S11.11－1993標準(zhun)的測量方(fang)法，這(zhe)是(shi)壹(yi)種(zhong)快(kuai)速(su)的測量平面(mian)均勻(yun)材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)值(zhi)的方(fang)法。這(zhe)種(zhong)方(fang)法也(ye)適合於多(duo)層(ceng)材(cai)料(liao)的測量，但是在(zai)阻(zu)抗值報告(gao)中(zhong)必須(xu)註明測量時(shi)的溫(wen)度和濕度條(tiao)件。A、將表放(fang)在待(dai)測量的物(wu)體表面。
B、將開關(guan)調到所需(xu)的電(dian)壓(ya)位(wei)置(10伏或100伏(fu))
C、以大(da)約(yue)5磅(bang)的壓(ya)力(li)持(chi)續(xu)按(an)下測量按(an)鈕，此時(shi)LCD屏會(hui)顯示出(chu)測量的表(biao)面(mian)阻抗(kang)，溫(wen)度和相對濕度值，整個(ge)測量過程大約(yue)為(wei)十(shi)五(wu)秒(miao)種(zhong)。
·表面(mian)阻(zu)抗(kang)單(dan)位(wei)為歐(ou)姆/□
·溫(wen)度單(dan)位(wei)為攝式
·相對濕度單(dan)位(wei)為百(bai)分比
在(zai)每次測量中(zhong)，按(an)下測量按(an)鈕後，測試(shi)儀將連(lian)續(xu)顯示修(xiu)整測量值，松(song)開按(an)鈕後約(yue)四(si)十(shi)五秒(miao)內，顯示的是(shi)很(hen)後壹個(ge)測量值。
2、AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測試(shi)儀同心(xin)環探頭阻抗(kang)測量法（ConcentricRingProbeResistivitymethod）（同(tong)心(xin)環探頭為選(xuan)購件）
將連(lian)線插頭插(cha)入(ru)表的兩個(ge)3.5毫米(mi)插孔，並(bing)將香蕉(jiao)插頭(tou)與(yu)同心(xin)環探頭(選購件)相聯(lian)。將探頭(tou)放在(zai)待(dai)測試(shi)物(wu)體表面後，按(an)下按(an)鈕約(yue)15秒(miao)鐘後，在液晶(jing)顯示屏(ping)上(shang)將顯示出(chu)正(zheng)確(que)的溫(wen)度和相對濕度，正確(que)的表(biao)面(mian)阻抗(kang)值為(wei)液晶(jing)顯示屏(ping)上(shang)的讀數(shu)乘(cheng)以10，單(dan)位(wei)為歐(ou)姆/□。例(li)如：
晶(jing)屏(ping)上(shang)顯示為(wei)3.5×104歐(ou)姆/□；實(shi)際阻抗值(zhi)為3.5×105歐(ou)姆/□。
2、表(biao)面電(dian)阻(zu)測量（點對點(dian)）(SurfaceResistanceMeasurement（RTT）)
這(zhe)個(ge)測量方(fang)法是(shi)符合EOS/ESD-S4.1測量要求來(lai)測量獨(du)立(li)於接地的兩點(dian)之間的電(dian)阻(zu)，用這(zhe)個(ge)測量方(fang)法得(de)出(chu)的測量結果與(yu)被(bei)測物體的處(chu)理、兩個(ge)5磅探(tan)頭之間的距(ju)離等因(yin)素(su)有關，因(yin)此，應選擇正確(que)的測量規程，每次在(zai)同(tong)樣(yang)要求的測量條(tiao)件下進(jin)行(xing)測試(shi)。A、將連(lian)線插頭插(cha)入(ru)表的兩個(ge)3.5毫米(mi)插孔，並(bing)將香蕉(jiao)插頭(tou)與(yu)兩個(ge)5磅重探(tan)頭相聯(lian)。
B、AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測試(shi)儀按(an)照測量規程將兩個(ge)探頭(tou)放置在待(dai)測物體表面。
C、AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測試(shi)儀選擇所需(xu)的電(dian)壓(ya)值(zhi)(10伏(fu)或100伏(fu))
D、AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測試(shi)儀按(an)下開關(guan)直到顯示出(chu)所選的電(dian)壓(ya)值(zhi)(10伏(fu)或100伏(fu))，繼續(xu)按(an)著(zhe)開關直至(zhi)所測電(dian)阻(zu)（單(dan)位(wei)為歐(ou)姆），相對濕度和溫(wen)度顯示在(zai)液晶(jing)顯示屏(ping)上(shang)。
高(gao)級用戶(hu)安(an)全性
為(wei)每個(ge)用戶(hu)自(zi)定(ding)義(yi)壹用戶(hu)ID和密碼保(bao)護。這(zhe)樣(yang)可(ke)確(que)保測試(shi)程序不會被(bei)沒(mei)有資格的人(ren)員(yuan)修(xiu)改(gai)。
SmartGFI?
在(zai)被(bei)測設備（DUT）與(yu)大地絕(jue)緣時(shi)，通(tong)過檢測過大(da)的漏(lou)電(dian)流來(lai)為操(cao)作員(yuan)提(ti)供(gong)很大(da)保護，即(ji)時(shi)挽救(jiu)接(jie)觸(chu)高壓(ya)部(bu)件(jian)的測試(shi)操(cao)作員(yuan)。
提(ti)示和(he)保(bao)持(chi)
確(que)保每個(ge)被(bei)測設備都(dou)正確(que)地完(wan)成(cheng)測試(shi)，並(bing)在(zai)測試(shi)步驟(zhou)之間顯示自(zi)定(ding)義(yi)的彈(dan)出(chu)提(ti)示。
多(duo)語言(yan)
如今(jin)，在(zai)各地進(jin)行(xing)測試(shi)比以往(wang)任(ren)何時(shi)候都(dou)更容(rong)易(yi)。我們的儀器有多(duo)種(zhong)不同的運(yun)行(xing)語言(yan)。只需(xu)選(xuan)擇您(nin)需(xu)要的設(she)置。