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          美(mei)國Associated Research

          美(mei)國Associated Research

          簡要(yao)描(miao)述:
          美(mei)國Associated Research高壓測(ce)試儀自(zi)1936年以(yi)來(lai),Associated Research持續為(wei)電(dian)氣安(an)規產業(ye)提(ti)供(gong)測(ce)試和測(ce)量(liang)解決(jue)方(fang)案(an),秉持著(zhe)對質(zhi)量、創(chuang)新(xin)和客戶(hu)服(fu)務(wu)的(de)承(cheng)諾(nuo),現(xian)已(yi)發展成為(wei)該(gai)產業(ye)的(de)指(zhi)標(biao)性(xing)公(gong)司(si)。 Associated Research的(de)使命(ming),是與(yu)那(na)些相信(xin)並重視電(dian)氣安(an)規測(ce)試產品和專(zhuan)業(ye)的(de)制(zhi)造商,建立良(liang)好(hao)關系,持續提供(gong)的(de)產品和服(fu)務(wu)。

          更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-07-17

          訪(fang)問次(ci)數:3639

          產品型(xing)號(hao):7850

          廠(chang)商(shang)性(xing)質(zhi):代理商(shang)

          品牌(pai)其(qi)他品牌(pai)價(jia)格(ge)區(qu)間(jian)面(mian)議
          產地(di)類(lei)別進(jin)口(kou)應(ying)用(yong)領(ling)域醫(yi)療(liao)衛生,環(huan)保(bao),電(dian)子/電(dian)池,制藥(yao)/生物制藥,汽(qi)車(che)及(ji)零(ling)部(bu)件


          壹(yi)、美(mei)國Associated Research品牌(pai)的(de)介(jie)紹:

          (1)自(zi)1936年以(yi)來(lai),AssociatedResearch持續為(wei)電(dian)氣安(an)規產業(ye)提(ti)供(gong)測(ce)試和測(ce)量(liang)解決(jue)方(fang)案(an),秉持著(zhe)對質(zhi)量、創(chuang)新(xin)和客戶(hu)服(fu)務(wu)的(de)承(cheng)諾(nuo),現(xian)已(yi)發展成為(wei)該(gai)產業(ye)的(de)指(zhi)標(biao)性(xing)公(gong)司(si)。AssociatedResearch的(de)使命(ming),是與(yu)那(na)些相信(xin)並重視電(dian)氣安(an)規測(ce)試產品和專(zhuan)業(ye)的(de)制(zhi)造商,建立良(liang)好(hao)關系,持續提供(gong)的(de)產品和服(fu)務(wu)AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測(ce)試儀同(tong)心(xin)環(huan)探頭(tou)阻(zu)抗測量(liang)(ConcentricRingProbeResistivitymethod)(同(tong)心(xin)環(huan)探頭(tou)為(wei)選(xuan)購件)將連(lian)線(xian)插(cha)頭插(cha)入表的(de)兩(liang)個3.5毫(hao)米插(cha)孔,並將(jiang)香蕉(jiao)插(cha)頭與(yu)同(tong)心(xin)環(huan)探頭(tou)(選(xuan)購件)相聯。將探頭(tou)放(fang)在待(dai)測試物(wu)體(ti)表面(mian)後(hou),按下按鈕(niu)約(yue)15秒(miao)鐘(zhong)後(hou),在液晶顯(xian)示屏上將顯(xian)示出(chu)正確(que)的(de)溫度(du)和相(xiang)對濕(shi)度,正確(que)的(de)表面(mian)阻(zu)抗值為(wei)液(ye)晶(jing)顯(xian)示屏上的(de)讀(du)數乘(cheng)以(yi)10,單位為(wei)歐(ou)姆(mu)/□。

          (2)例如(ru):晶(jing)屏上顯(xian)示為(wei)3.5×104歐(ou)姆(mu)/□;實(shi)際(ji)阻(zu)抗值為(wei)3.5×105歐(ou)姆(mu)/□。表面(mian)電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)(點(dian)對點)(SurfaceResistanceMeasurement(RTT))

          (3)這(zhe)個測(ce)量方(fang)法是符合(he)EOS/ESD-S4.1測量(liang)要(yao)求(qiu)來(lai)測(ce)量獨立於接(jie)地(di)的(de)兩(liang)點之間(jian)的(de)電(dian)阻(zu),用(yong)這(zhe)個測(ce)量方(fang)法得出(chu)的(de)測(ce)量結果(guo)與(yu)被(bei)測物(wu)體的(de)處(chu)理、兩(liang)個5磅(bang)探頭(tou)之間(jian)的(de)距(ju)離等(deng)因素有(you)關,因此,應(ying)選(xuan)擇(ze)正確(que)的(de)測(ce)量規程,每次在同(tong)樣(yang)要(yao)求(qiu)的(de)測(ce)量條件下進(jin)行測試。


          二(er)、美(mei)國Associated Research的(de)測(ce)試方(fang)法:

          1.將(jiang)連線插(cha)頭插(cha)入表的(de)兩(liang)個3.5毫(hao)米插(cha)孔,並將(jiang)香蕉(jiao)插(cha)頭與(yu)兩(liang)個5磅(bang)重探頭(tou)相(xiang)聯。

          2.AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測(ce)試儀按照(zhao)測量規程將兩(liang)個探頭(tou)放(fang)置在待(dai)測物(wu)體表面(mian)。

          3.AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測(ce)試儀選(xuan)擇(ze)所(suo)需(xu)的(de)電(dian)壓值(10伏(fu)或100伏(fu))。

          4.AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測(ce)試儀按下(xia)開關直到(dao)顯(xian)示出(chu)所(suo)選(xuan)的(de)電(dian)壓值(10伏(fu)或100伏(fu)),繼續(xu)按(an)著(zhe)開關直至(zhi)所(suo)測電(dian)阻(zu)(單(dan)位為(wei)歐(ou)姆(mu)),相(xiang)對濕(shi)度和溫度(du)顯(xian)示在液晶顯(xian)示屏上。

          5.電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang):這(zhe)個測(ce)量方(fang)法是用(yong)於測量物體(ti)表面(mian)壹(yi)點(dian)與(yu)表面(mian)上另壹(yi)接(jie)地(di)點(dian)之間(jian)的(de)表面(mian)電(dian)阻(zu),測(ce)量(liang)方(fang)法符合(he)EOS/ESDS4.1測量(liang)標(biao)準。

          6.將兩(liang)條連(lian)線的(de)壹(yi)端分(fen)別插(cha)入表的(de)兩(liang)個3.5毫(hao)米插(cha)孔,然(ran)後(hou)將其中(zhong)壹(yi)條(tiao)接(jie)鱷魚夾,另(ling)外壹(yi)條(tiao)與(yu)壹(yi)個5磅(bang)重盤(pan)形(xing)探頭(tou)相(xiang)聯。

          7.將鱷魚夾子(zi)接(jie)到(dao)所(suo)知(zhi)的(de)接(jie)地(di)點(dian)上,按照(zhao)測量要(yao)求(qiu)將盤(pan)形(xing)探頭(tou)放(fang)在待(dai)測物(wu)體表面(mian)上。

          8.AssociatedResearch電(dian)阻(zu)測(ce)試儀按下(xia)測量(liang)按鈕直至(zhi)電(dian)阻(zu)(單(dan)位為(wei)歐(ou)姆(mu))、相(xiang)對濕(shi)度、溫度(du)值顯(xian)示在顯(xian)示屏上,測量結果(guo)符合(he)EIA,EOS/ESD,ANSI,IEC-93,CECC,ASTM測量(liang)標(biao)準,對於高阻(zu)抗材(cai)料的(de)測(ce)量時為(wei)保(bao)證(zheng)測(ce)得(de)高精(jing)度(du)測量(liang)結果(guo),需(xu)註意不要(yao)使兩(liang)引線交(jiao)疊,不(bu)要(yao)用(yong)手接(jie)觸(chu)探頭(tou),引(yin)線和被(bei)測物(wu)體。


          三(san)、美(mei)國AssociatedResearch高壓測(ce)試儀接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)試的(de)使用(yong)圖(tu)解:

          1)將接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)儀平放(fang)於接(jie)地(di)體(ti)附近,並進(jin)行接(jie)線,接(jie)線方(fang)法如(ru)下:

          ①用很短的(de)導(dao)線將接(jie)地(di)體(ti)與(yu)接(jie)地(di)測(ce)量儀的(de)接(jie)線端E1(三(san)端鈕(niu)的(de)測(ce)量儀)或與(yu)C2、短接(jie)後(hou)的(de)公(gong)共端(四端鈕(niu)的(de)測(ce)量儀)相連(lian)。

          ②用很長的(de)導(dao)線將距(ju)接(jie)地(di)體(ti)40m的(de)測(ce)量探針(zhen)(電(dian)流探針(zhen))與(yu)測(ce)量儀的(de)接(jie)線鈕(niu)C1相(xiang)連(lian)。

          ③用余下(xia)的(de)長度居中(zhong)的(de)導(dao)線將距(ju)接(jie)地(di)體(ti)⒛m的(de)測(ce)量探針(zhen)(電(dian)位探針(zhen))與(yu)測(ce)量儀的(de)接(jie)線端P1相(xiang)連。

          2)將(jiang)測(ce)量儀水平放(fang)置後(hou),檢查(zha)檢(jian)流計(ji)的(de)指(zhi)針(zhen)是否(fou)指(zhi)向中(zhong)心(xin)線(xian),否(fou)則(ze)調(tiao)節零(ling)位調(tiao)整(zheng)器(qi)使測(ce)量儀指(zhi)針(zhen)指(zhi)向中(zhong)心(xin)線(xian)。將(jiang)倍率(lv)標(biao)度(du)(或稱粗(cu)調(tiao)旋(xuan)鈕)置於很大倍數,並慢慢地(di)轉(zhuan)動(dong)發電(dian)機(ji)轉(zhuan)柄(指(zhi)針(zhen)開始(shi)偏(pian)移(yi)),同(tong)時(shi)旋(xuan)動(dong)測量標(biao)度(du)盤(pan)(或稱細(xi)調(tiao)旋(xuan)鈕)使檢(jian)流計(ji)指(zhi)針(zhen)指(zhi)向中(zhong)心(xin)線(xian)。

          3)當檢(jian)流計(ji)的(de)指(zhi)針(zhen)接(jie)近於平衡時(shi)(指(zhi)針(zhen)近於中(zhong)心(xin)線(xian))加(jia)快(kuai)搖(yao)動(dong)轉(zhuan)柄,使其(qi)轉(zhuan)速(su)達到(dao)120r/min以(yi)上,同(tong)時(shi)調(tiao)整(zheng)測量標(biao)度(du)盤(pan),使指(zhi)針(zhen)指(zhi)向中(zhong)心(xin)線(xian)。

          4)若(ruo)測量(liang)標(biao)度(du)盤(pan)的(de)讀(du)數過(guo)小(小(xiao)於1)不易讀準確(que)時,說明(ming)倍率(lv)標(biao)度(du)倍數過(guo)大。此(ci)時(shi)應將倍率(lv)標(biao)度(du)置於較小的(de)倍數,重新(xin)調(tiao)整(zheng)測量標(biao)度(du)盤(pan)使指(zhi)針(zhen)指(zhi)向中(zhong)心(xin)線(xian)上並讀(du)出(chu)準確(que)讀數。

          5)計(ji)算測量(liang)結果(guo),即(ji)R地(di)=倍率(lv)標(biao)度(du)讀(du)數測(ce)量標(biao)度(du)盤(pan)讀(du)數。


          四、高級用戶(hu)安(an)全性(xing):

          (1)為(wei)每個用(yong)戶(hu)自(zi)定義(yi)壹(yi)用(yong)戶(hu)ID和密(mi)碼(ma)保(bao)護(hu)。這(zhe)樣(yang)可(ke)確(que)保(bao)測(ce)試程序不(bu)會(hui)被(bei)沒有(you)資格(ge)的(de)人員修(xiu)改。

          (2)在被(bei)測設(she)備(bei)(DUT)與(yu)大(da)地(di)絕(jue)緣(yuan)時(shi),通過(guo)檢測(ce)過(guo)大的(de)漏(lou)電(dian)流來(lai)為(wei)操(cao)作(zuo)員提供(gong)很(hen)大保(bao)護(hu),即(ji)時(shi)挽(wan)救接(jie)觸(chu)高壓部(bu)件的(de)測(ce)試操(cao)作(zuo)員。

          (3)提(ti)示和保(bao)持

          確(que)保(bao)每個被(bei)測設(she)備(bei)都正確(que)地(di)完(wan)成測(ce)試,並在測試步驟之間(jian)顯(xian)示自(zi)定義(yi)的(de)彈(dan)出(chu)提示。

          (4)多(duo)語言(yan)

          如(ru)今,在各(ge)地(di)進(jin)行測試比以(yi)往(wang)任(ren)何(he)時(shi)候都更(geng)容(rong)易。我(wo)們(men)的(de)儀器(qi)有(you)多種不同(tong)的(de)運(yun)行語言(yan)。只需(xu)選(xuan)擇(ze)您需(xu)要(yao)的(de)設(she)置。


          五、主要(yao)型(xing)號(hao):SC6540、3805、3865、3870、3880、7820、7850、7800、7804、8204、8254、8206、8256、8207、8257、3240、7705、7710、7715、7720、620L

          美(mei)國Associated Research


           

          留(liu)言框(kuang)

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